Palestrante: Andréa Porto Carreiro Campos (INMETRO)

A microscopia eletrônica de transmissão (MET) possibilita a visualização e caracterização de materiais a partir de dimensões micrométricas até a escala atômica. A utilização de um feixe de elétrons é que torna possível a observação de materiais em escalas tão diminutas. Imperfeições intrínsecas nas lentes criam aberrações que limitam a resolução espacial dos microscópios eletrônicos a valores próximos a 0,2 nm.

Entretanto, novas séries de microscópios com modernas lentes eletromagnéticas, aliadas a fontes de elétrons de alta coerência e conjuntos adicionais de corretores de aberração esférica, têm proporcionado resoluções menores do que 0,08 nm, atingindo escalas subatômicas e propiciando novas perspectivas na pesquisa em materiais.

Nesta palestra serão apresentadas aplicações usando diferentes modos de funcionamento e técnicas de análise da MET.